本发明提供一种成分分析仪，包含待测物容置装置，其具有容置空间、透光片与转动件，透光片设置于待测物容置装置的相对两侧，转动件设置于待测物容置装置，转动件的延伸方向定义为X方向，X方向与Y方向与Z方向三者彼此相互垂直，Y方向与Z方向定义成YZ平面，待测物容置装置可沿着YZ平面转动；光检测装置，其具有固态光源发射器与接收器；驱动装置，连接转动件。本发明借由待测物容置装置于YZ平面的旋转方式，以使预分析检测的谷物能在均匀地混合的情况下进行检测，并达到多次重复的量测，来获取谷物成分数据。

　　(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114910444 A (43)申请公布日 2022.08.16 (21)申请号 7.7 (22)申请日 2022.01.27 (30)优先权数据 110105005 2021.02.09 TW (71)申请人 大连兆晶生物科技有限公司 地址 116081 辽宁省大连市沙河口区西南 路670号303室 (72)发明人 丁逸圣陈育宗 (74)专利代理机构 北京申翔知识产权代理有限 公司 11214 专利代理师 周春发 (51)Int.Cl. G01N 21/39 (2006.01) G01N 21/01 (2006.01) 权利要求书3页 说明书14页 附图20页 (54)发明名称 成分分析仪及成分分析系统 (57)摘要 本发明提供一种成分分析仪，包含待测物容 置装置，其具有容置空间、透光片与转动件，透光 片设置于待测物容置装置的相对两侧，转动件设 置于待测物容置装置，转动件的延伸方向定义为 X方向，X方向与Y方向与Z方向三者彼此相互垂 直，Y方向与Z方向定义成YZ平面，待测物容置装 置可沿着YZ平面转动；光检测装置，其具有固态 光源发射器与接收器；驱动装置，连接转动件。本 发明借由待测物容置装置于YZ平面的旋转方式， 以使预分析检测的谷物能在均匀地混合的情况 下进行检测，并达到多次重复的量测，来获取谷 物成分数据。 A 4 4 4 0 1 9 4 1 1 N C CN 114910444 A 权利要求书 1/3页 1.一种成分分析仪，其特征在于，包含： 一待测物容置装置(10)，该待测物容置装置(10)具有一容置空间(101)、一透光片 (102)与一转动件(11)，该透光片(102)设置于该容置空间(101)的相对两侧中的一侧，该转 动件(11)设置于该待测物容置装置(10)，该转动件(11)的延伸方向定义为一X方向，该X方 向不同于一Y方向与一Z方向，该Y方向与该Z方向定义成一YZ平面，该待测物容置装置(10) 可沿着该YZ平面转动，且该YZ平面的法线与该X方向的夹角大于或等于0度且小于90度； 一光检测装置(12)，该光检测装置(12)具有一固态光源发射器(120)与一接收器 (121)，该固态光源发射器(120)具有一光源，该接收器(121)接收来自该光源发射的一光 线)可供该光线通过，其中该容置空间(101)的相对两侧中的另一侧设置另 一该透光片(102)、一反光片或一非透光片； 一驱动装置(13)，该驱动装置(13)连接该转动件(11)；以及 至少一支撑件(14)，该支撑件(14)枢接于该转动件(11)。 2.如权利要求1所述的成分分析仪，其特征在于，其中当该容置空间(101)的相对两侧 中的另一侧设置另一该透光片(102)，该固态光源发射器(120)与该接收器(121)分别设置 于该待测物容置装置(10)两侧的邻近该透光片(102)的位置。 3.如权利要求1所述的成分分析仪，其特征在于，其中当该容置空间(101)的相对两侧 中的另一侧设置该反光片，该成分分析仪(1000)更包含一反光片，该固态光源发射器(120) 与该接收器(121)分别设置于该待测物容置装置(10)的同一侧，该反光片设置于该待测物 容置装置(10)的另一侧。 4.如权利要求1所述的成分分析仪，其特征在于，其中当该容置空间(101)的相对两侧 中的另一侧设置该非透光片，该固态光源发射器(120)设置于邻近该待测物容置装置(10) 的相对两侧中的一侧，该接收器(121)设置于邻近该待测物容置装置(10)的相对两侧中的 另一侧，且该接收器(121)面向该待测物容置装置(10)的相对两侧中的一侧。 5.如权利要求1所述的成分分析仪，其特征在于，该待测物容置装置(10)更包含一待测 物容置装置盖(15)与一开口，该开口连通于该容置空间(101)，该待测物容置装置盖(15)可 活动地密封该开口。 6.如权利要求5所述的成分分析仪，其特征在于，该待测物容置装置盖(15)覆盖于该开 口。 7.如权利要求5所述的成分分析仪，其特征在于，该待测物容置装置盖(15)借由一第一 枢轴(151)枢设于该待测物容置装置(10)。 8.如权利要求1所述的成分分析仪，其特征在于，该透光片(102)的材质包括玻璃、蓝宝 石、石英或压克力。 9.如权利要求1所述的成分分析仪，其特征在于，该固态光源发射器(120)的光源的波 长范围介于180nm至2500nm。 10.如权利要求1所述的成分分析仪，其特征在于，该固态光源发射器(120)的光源的波 长范围介于400nm至1700nm。 11.如权利要求1所述的成分分析仪，其特征在于，该待测物容置装置(10)的截面形状 为圆形、椭圆形、多边形或不规则形状。 12.如权利要求1所述的成分分析仪，其特征在于，该成分分析仪(1000)更设置于一壳 2 2 CN 114910444 A 权利要求书 2/3页 体(16)的内部。 13.如权利要求12所述的成分分析仪，其特征在于，该壳体(16)更包含一盖子(160)，该 盖子(160)借由一第二枢轴(161)枢设于该壳体(16)。 14.如权利要求1所述的成分分析仪，其特征在于，该壳体(16)设置至少一散热孔(17)。 15.如权利要求13所述的成分分析仪，其特征在于，该壳体(16)的内部更设置一散热单 元(18)。 16.如权利要求1所述的成分分析仪，其特征在于，该成分分析仪(1000)更包含一感测 器(19)。 17.如权利要求16所述的成分分析仪，其特征在于，该感测器(19)可为包含相对湿度感 测器或温度感测器或其两者。 18.一种成分分析系统，适用于一成分分析仪(1000)，其特征在于，该成分分析系统(2) 包含：一待测物容置装置(10)，该待测物容置装置(10)具有一容置空间(101)、一透光片 (102)与一转动件(11)，该透光片(102)设置于该容置空间(101)的相对两侧中的一侧，该转 动件(11)设置于该待测物容置装置(10)，该转动件(11)的延伸方向定义为一X方向，该X方 向不同于一Y方向与一Z方向，该Y方向与该Z方向定义成一YZ平面，该待测物容置装置(10) 可沿着该YZ平面转动，该YZ平面的法线与该X方向的夹角大于或等于0度且小于90度； 一光检测装置(12)，该光检测装置(12)具有一固态光源发射器(120)与一接收器 (121)，该固态光源发射器(120)具有一光源，该接收器(121)接收来自该光源发射的一光 线)可供该光线通过，其中该容置空间(101)的相对两侧中的另一侧设置另 一该透光片(102)、一反光片或一非透光片； 一驱动装置(13)，该驱动装置(13)连接该转动件(11)； 至少一支撑件(14)，该支撑件(14)枢接于该转动件(11)；以及 一第一处理器(20)，该第一处理器(20)电性连接该光检测装置(12)、该驱动装置(13)、 一谷物分析模组(25)、一第一无线所述的成分分析系统，其特征在于，该成分分析系统(2)更包含一感 测器(19)，该感测器(19)电性连接该第一处理器(20)。 20.如权利要求19所述的成分分析系统，其特征在于，该感测器(19)可为包含相对湿度 感测器或温度感测器或其两者。 21.如权利要求18所述的成分分析系统，其特征在于，该成分分析系统(2)更包含一第 一设定单元(23)，该第一设定单元(23)电性连接该第一处理器(20)。 22.如权利要求21所述的成分分析系统，其特征在于，该第一设定单元(23)包含一作物 资讯、一作物种类、一纪录日期、一分析区域(R)或一作物采收计划。 23.如权利要求18所述的成分分析系统，其特征在于，该成分分析系统(2)更包含一第 一显示装置(24)，该第一显示装置(24)电性连接该第一处理器(20)。 24.如权利要求18所述的成分分析系统，其特征在于，该第一无线)通讯连 接一电子设备(3)的一第二无线)，该第二无线)电性连接一第二 处理器(31)。 25.如权利要求24所述的成分分析系统，其特征在于，该电子设备(3)更包含一第二设 定单元(32)，该第二设定单元(32)电性连接该第二处理器(31)。 3 3 CN 114910444 A 权利要求书 3/3页 26.如权利要求25所述的成分分析系统，其特征在于，该第二设定单元(32)包含一作物 资讯、一作物种类、一纪录日期、一分析区域(R)或一作物采收计划。 27.如权利要求24所述的成分分析系统，其特征在于，该电子设备(3)更包含一第二显 示装置(33)，该第二显示装置(33)电性连接该第二处理器(31)。 4 4 CN 114910444 A 说明书 1/14页 成分分析仪及成分分析系统 技术领域 [0001] 本发明关于一种成分分析仪的技术领域，特别是指一种具有能均匀地量测与多次 重复量测的成分分析仪及成分分析系统。 背景技术 [0002] 谷物品种的挑选或育种一直是农业努力的方向，对于优良品种谷物的判断，不外 乎就是针对谷物内含有的成分比例以判断该谷物价值的高低，如今，许多先进国家将农业 与现代科技进行结合，而建立出智慧化农业。 [0003] 在智慧化农业里利用光谱仪检测谷物的营养成分为常见，尤其是对于具有大量谷 物需求与成分要求的买家，更为重视检测后数据的精确度及快速性，目前的成分分析仪在 分析谷物时，将谷物放置于分析容器内，并透过分析容器的水平式的旋转或固定静止的方 式，以光谱仪来分析谷物的成分比例，而上述方式仅能针对分析容器内部分位置的谷物进 行量测，再者，难以重复多次的量测以取得平均的数值，或者如日本专利公告号 JP6088770B2所述的谷物成分分析仪利用光谱方法逐个颗粒地定量分析谷物中包含的特定 成分，该日本专利所提供的分析仪虽能逐个谷物颗粒进行量测以取得较真实的数值，但显 然对于实际情况如当预分析的谷物含量为大量时，是耗时且不切实际的，又或者如市面上 出现透过瀑布式的方式将谷物由上而下流动，并于流动的同时透过光谱方法进行量测，该 方式虽能改善上述所提的成分分析仪的部分缺点，但对于重复多次的量测仅能以人工的方 式进行，耗时耗力且有污染待测谷物的可能。 [0004] 因此，本发明即在阐述如何借由创新的硬件设计，有效改善传统成分分析仪对于 谷物含量、均匀量测与重复量测间如何达到平衡等问题，仍是相关产业的开发从业者与相 关研究人员需持续努力克服与解决的课题。 发明内容 [0005] 发明人有鉴于此，并借由其丰富的专业知识及多年的实务经验所辅佐，而加以改 良发明，其目的在于解决传统成分分析仪对于谷物含量、均匀量测与重复量测间如何达到 平衡等问题，因此，本发明人借由其丰富的专业知识及实务经验所辅佐，而据此研创出本发 明。 [0006] 本发明提供一种成分分析仪，包含一待测物容置装置，该待测物容置装置具有一 容置空间、一透光片与一转动件，该透光片设置于该容置空间的相对两侧中的一侧，该转动 件设置于该待测物容置装置，该转动件的延伸方向定义为一X方向，该X方向不同于一Y方向 与一Z方向，该Y方向与该Z方向定义成一YZ平面，该待测物容置装置可沿着该YZ平面转动， 该YZ平面的法线与该X方向的夹角大于或等于0度且小于90度；一光检测装置，该光检测装 置具有一固态光源发射器与一接收器，该固态光源发射器具有一光源，该接收器接收来自 该光源发射的一光线，该透光片可供该光线通过，其中该容置空间的相对两侧中的另一侧 设置另一该透光片、一反光片或一非透光片；一驱动装置，该驱动装置连接该转动件；以及 5 5 CN 114910444 A 说明书 2/14页 至少一支撑件，该支撑件枢接于该转动件。 [0007] 本发明一实施例中，当该容置空间的相对两侧中的另一侧设置另一该透光片，该 固态光源发射器与该接收器分别设置于该待测物容置装置两侧。 [0008] 本发明一实施例中，当该容置空间的相对两侧中的另一侧设置该反光片，该成分 分析仪更包含一反光片，该固态光源发射器与该接收器分别设置于该待测物容置装置的同 一侧，该反光片设置于该待测物容置装置的另一侧。 [0009] 本发明一实施例中，当该容置空间的相对两侧中的另一侧设置该非透光片，该固 态光源发射器设置于邻近该待测物容置装置的相对两侧中的一侧，该接收器设置于邻近该 待测物容置装置的相对两侧中的另一侧，且该接收器面向该待测物容置装置的相对两侧中 的一侧。 [0010] 本发明一实施例中，该待测物容置装置更包含一待测物容置装置盖与一开口，该 开口连通于该容置空间，该待测物容置装置盖可活动地密封该开口。 [0011] 本发明一实施例中，该待测物容置装置盖覆盖于该开口。 [0012] 本发明一实施例中，该待测物容置装置盖借由一第一枢轴枢设于该待测物容置装 置。 [0013] 本发明一实施例中，该透光片的材质包括玻璃、蓝宝石、石英或压克力。 [0014] 本发明一实施例中，该固态光源发射器的光源的波长范围介于180nm至2500nm。 [0015] 本发明一实施例中，该固态光源发射器的光源的波长范围介于400nm至1700nm。 [0016] 本发明一实施例中，该待测物容置装置的截面形状为圆形、椭圆形、多边形或不规 则形状。 [0017] 本发明一实施例中，该成分分析仪更设置于一壳体的内部。 [0018] 本发明一实施例中，该壳体更包含一盖子，该盖子借由一第二枢轴枢设于该壳体。 [0019] 本发明一实施例中，该壳体设置至少一散热孔。 [0020] 本发明一实施例中，该壳体的内部更设置一散热单元。 [0021] 本发明一实施例中，该成分分析仪更包含一感测器。 [0022] 本发明一实施例中，该感测器可为包含相对湿度感测器或温度感测器或其两者。 [0023] 本发明基于主要目的另外提供一种成分分析系统，适用于一成分分析仪，该成分 分析系统包含一待测物容置装置，该待测物容置装置具有一容置空间、一透光片与一转动 件，该透光片设置于该容置空间的相对两侧中的一侧，该转动件设置于该待测物容置装置， 该转动件的延伸方向定义为一X方向，该X方向不同于一Y方向与一Z方向，该Y方向与该Z方 向定义成一YZ平面，该待测物容置装置可沿着该YZ平面转动，该YZ平面的法线与该X方向的 夹角大于或等于0度且小于90度；一光检测装置，该光检测装置具有一固态光源发射器与一 接收器，该固态光源发射器具有一光源，该接收器接收来自该光源发射的一光线，该透光片 可供该光线通过，其中该容置空间的相对两侧中的另一侧设置另一该透光片、一反光片或 一非透光片；一驱动装置，该驱动装置连接该转动件；至少一支撑件，该支撑件枢接于该转 动件；以及一第一处理器，该第一处理器电性连接该光检测装置、该驱动装置、一谷物分析 模组、一第一无线通讯模组与一全球定位系统。 [0024] 本发明一实施例中，该成分分析系统更包含一感测器，该感测器电性连接该第一 处理器。 6 6 CN 114910444 A 说明书 3/14页 [0025] 本发明一实施例中，该感测器可为包含相对湿度感测器或温度感测器或其两者。 [0026] 本发明一实施例中，该成分分析系统更包含一第一设定单元，该第一设定单元电 性连接该第一处理器。 [0027] 本发明一实施例中，该第一设定单元包含一作物资讯、一作物种类、一纪录日期、 一分析区域或一作物采收计划。 [0028] 本发明一实施例中，该成分分析系统更包含一第一显示装置，该第一显示装置电 性连接该第一处理器。 [0029] 本发明一实施例中，该第一无线通讯模组通讯连接一电子设备的一第二无线通讯 模组，该第二无线通讯模组电性连接一第二处理器。 [0030] 本发明一实施例中，该电子设备更包含一第二设定单元，该第二设定单元电性连 接该第二处理器。 [0031] 本发明一实施例中，该第二设定单元包含一作物资讯、一作物种类、一纪录日期、 一分析区域或一作物采收计划。 [0032] 本发明一实施例中，该电子设备更包含一第二显示装置，该第二显示装置电性连 接该第二处理器。 [0033] 借此，本发明的成分分析仪借由待测物容置装置于YZ平面的旋转方式，以使预分 析检测的谷物能在均匀地混合的情况下进行检测，并达到多次重复的量测，来获取谷物成 分数据，同时地，可透过成分分析系统将所检测待测物的数值传输于使用者的电子设备，以 供使用者日后制定作物采收计划的基础。 附图说明 [0034] 图1A为本发明其一较佳实施例的成分分析仪整体示意图。 [0035] 图1B为本发明其一较佳实施例的成分分析仪整体俯视图(一)。 [0036] 图1C为本发明其一较佳实施例的成分分析仪整体俯视图(二)。 [0037] 图1D为本发明其一较佳实施例的待测物容器装置侧视图。 [0038] 图1E为本发明其一较佳实施例的待测物容器装置剖视图。 [0039] 图1F为本发明其一较佳实施例的待测物容器装置使用状态图(一)。 [0040] 图1G为本发明其一较佳实施例的待测物容器装置使用状态图(二)。 [0041] 图2为本发明第一实施例的发光二极管的放射光谱图。 [0042] 图3为本发明第二实施例的发光二极管的放射光谱图。 [0043] 图4为本发明第三实施例的发光二极管的放射光谱图。 [0044] 图5A为本发明光检测装置所测得的待测物时域讯号图。 [0045] 图5B为本发明光检测装置将待测物时域讯号进行傅立叶转换后的待测物频域讯 号图。 [0046] 图5C为本发明光检测装置将经过滤波效果后所留下的待测物光谱讯号的频域讯 号进行傅立叶反转换后的滤波后待测物时域讯号图。 [0047] 图6为本发明的成分分析仪检测小麦后的光谱图。 [0048] 图7为现有的成分分析仪检测小麦后的光谱图。 [0049] 图8为本发明与现有的成分分析仪检测谷物后的成分比较分析表格图。 7 7 CN 114910444 A 说明书 4/14页 [0050] 图9为本发明与现有的成分分析仪检测相同待测物后的光谱比较分析表格图。 [0051] 图10为本发明其一较佳实施例的成分分析系统方块图。 [0052] 图11为本发明其一较佳实施例的电子设备方块图。 [0053] 图12为本发明其一较佳实施例的作物产地示意图。 [0054] 图13为本发明其一较佳实施例的分析区域示意图(一)。 [0055] 图14为本发明其一较佳实施例的分析区域示意图(二)。 [0056] 图15为本发明其一较佳实施例的第一设定单元与第二设定单元示意状态图。 [0057] 图号说明： [0058] 1000:成分分析仪；10:待测物容置装置；101:容置空间；102:透光片；11:转动件； 12:光检测装置；120:固态光源发射器；121:接收器；13:驱动装置；14:支撑件；15:待测物容 置装置盖；151:第一枢轴；16:壳体；160:盖子；161:第二枢轴；17:散热孔；18:散热单元；19: 感测器； [0059] 2:成分分析系统；20:第一处理器；21:第一无线:谷物分析模组； [0060] 3:电子设备；30:第二无线:第二 显示装置； [0061] D1:第一方向线:第二方向线；A:待测物；C:作物产地；R:分析区域；P:定位资 讯。 具体实施方式 [0062] 为了使本发明揭示内容的叙述更加详尽与完备，下文针对了本发明的实施态样与 具体实施例提出了说明性的描述；但这并非实施或运用本发明具体实施例的唯一形式。 [0063] 本说明书整体中，单数形式的表达只要为未特别提及，则应理解为亦包括其复数 形式的概念。 [0064] 请参阅图1A至图1D，为本发明其一较佳实施例的成分分析仪整体示意图、整体俯 视图(一)、整体俯视图(二)以及待测物容器装置侧视图。一种成分分析仪1000，包含：一待 测物容置装置10、一光检测装置12、一驱动装置13以及至少一支撑件14，该待测物容置装置 10具有一容置空间101、一透光片102与一转动件11。 [0065] 该转动件11可贯穿设置于该待测物容置装置10或分别设置于该待测物容置装置 10两侧以作为轴心带动该待测物容置装置10转动，又或者可将多个该转动件11设置于该待 测物容置装置10周围，例如:该转动件11可为齿轮与该待测物容置装置10的齿轮彼此啮合 而转动；多个该转动件11也可分别各自转动或不转动，而透过多个该转动件11间彼此的配 合一同带动该待测物容置装置10转动，又或者该多个该转动件11也可包含链条、履带、皮带 或其他可带动该待测物容置装置10的物件，使容置于该容置空间101内的该待测物A可以上 下翻动，而达到短时间内混合均匀的效果。 [0066] 该支撑件14枢接于该转动件11，例如:可依照实际需求所需将该支撑件14枢接于 该转动件11两端或一端，该驱动装置13连接该转动件11，于实际实施时，该驱动装置13驱动 该转动件11转动，该转动件11同时带动该待测物容置装置10进行旋转，而该支撑件14除提 供该转动件11枢接以外，也同时支撑该待测物容置装置10，使该待测物容置装置10能稳固 8 8 CN 114910444 A 说明书 5/14页 地旋转，且该驱动装置13可因应一待测物A(如图1G所示)的尺寸、数量多寡或重量等性质， 而调整其运转速度、频率或旋转方向，该驱动装置13可举例但不限定于伺服马达。 [0067] 该光检测装置12可检测一待测物A，并产生相对应的吸收光谱、穿透光谱或反射光 谱的光谱图，而透过光谱图的分析，以得知该待测物A的相关成分比例，如本发明中待测物A 为谷物，借由光谱图的分析能得知该谷物的水份、蛋白质与灰质等数值。 [0068] 再者，该透光片102设置于该待测物容置装置10的相对两侧中的一侧，且该透光片 102的材质包括玻璃、蓝宝石、石英或压克力，但本发明并不限于此。于实际实施时，该透光 片102可供光源或特定波长的光源通过，使光源可由该待测物容置装置10一侧穿过该容置 空间101并到该待测物容置装置10另一侧。该容置空间101的相对两侧中的另一侧设置另一 该透光片102、一反光片或一非透光片。当该容置空间101的相对两侧中的另一侧设置另一 该透光片102，光源可由该待测物容置装置10一侧穿过该容置空间101并到该待测物容置装 置10另一侧。 [0069] 请再参阅图1D所示，该光检测装置12具有一固态光源发射器120与一接收器121， 该固态光源发射器120可举例为发光二极管(LED：Light Emitting Diode)、激光二极管 (LD：Laser Diode)，该固态光源发射器120具有一光源，该接收器121接收来自该光源发射 的一光线可供该光线通过。本发明一实施例中，当该容置空间101的相对两侧 中的另一侧设置另一该透光片102，该固态光源发射器120与该接收器121分别设置于邻近 该待测物容置装置10两侧的邻近该透光片102的位置，该固态光源发射器120包含一光源， 该光源可举例但不限定于单一光源组或包含多个次光源组，而当该光源包含多个次光源 组，每一个该次光源组包含多个各放射具有至少一发光峰值波长及至少一波长范围的光的 发光元件，多个该次光源组及/或多个该发光元件与该光源的一电路板电性连接，多个该次 光源组呈一不规则状排列或一规则状排列。本发明一实施例中，当该容置空间101的相对两 侧中的另一侧设置该反光片，反光片该固态光源发射器120与该接收器121分别设置于邻近 该待测物容置装置10的同一侧，该反光片设置于该待测物容置装置10的另一侧，且该固态 光源发射器120、该接收器121与该反光片设置于邻近该透光片102的位置，该固态光源发射 器120具有一光源，该接收器121接收来自该反光片所反射的一光线，该光线在该光源、该反 光片与该接收器121之间的行进路径形成一光路。该反光片可为白板、金属板、反光板、反射 镜面、反光涂层或任何具有反光能力的物件。本发明另一实施例中，当该容置空间101的相 对两侧中的另一侧设置该非透光片，该固态光源发射器120设置于邻近该待测物容置装置 10的相对两侧中的一侧，该接收器121设置于邻近该待测物容置装置10的相对两侧中的另 一侧，且该接收器121面向该待测物容置装置10的相对两侧中的一侧。 [0070] 该接收器121接收来自该光源发射的一光线，且该光线之 间的行进路径形成一光路，该接收器121例如可以是光侦测器(photodetector)、光电二极 管(Photo  diode)、有机光电二极管(Organic  Photo  diode)、光电倍增管 (photomultiplier)、光导电度侦测器(photoconducting detector)、硅热辐射侦测器(Si  bolometer)、一维或多维的光电二极管阵列(photodiode  array)、一维或多维的CCD (Charge  Coupled  Device：电荷耦合元件)阵列、一维或多维的CMOS(Complementary  Metal‑Oxide‑Semiconductor，互补式金属氧化物半导体)阵列、感测器19(Image Sensor)、 照相机、光谱仪或高光谱相机。一待测物A是被置放于该光路的路径上，该光路穿透该待测 9 9 CN 114910444 A 说明书 6/14页 物A或该光路在该待测物A的表面形成漫反射(Diffuse Reflection)光；或者，该光路于该 待测物表面及内部经由一次或多次穿透及反射而最后形成漫反射光。该接收器121将前述 漫反射光转换成一影像讯号、一待测物光谱讯号、一电压讯号及/或一电流讯号，并将该影 像讯号、该待测物光谱讯号、该电压讯号及/或该电流讯号传送至一第一处理器20，该第一 处理器20将该影像讯号及/或该待测物光谱讯号转换后形成一影像图及/或一待测物光谱 图。换言之，该接收器121包含电性连接的一影像撷取器及/或一光侦测器，例如该影像撷取 器可以是照相机、CCD或CMOS以将该光线转换成该影像讯号，该光侦测器可以是光谱仪以将 该光线转换成该待测物光谱讯号。又例如前述光电二极管可以将该光线转换成该电压讯号 或该电流讯号。 [0071] 如图1E所示，为本发明其一较佳实施例的待测物容器装置剖视图。该转动件11的 延伸方向定义为一X方向，该X方向不同于一Y方向与一Z方向，该Y方向与该Z方向定义成一 YZ平面，于实际实施时，该YZ平面的法线与该X方向的夹角为大于或等于0度且小于90度的 夹角范围内，该待测物容置装置10可沿着该YZ平面转动，使容置于该容置空间101内的该待 测物A可以上下翻动，而达到短时间内混合均匀的效果。本发明一实施例中，该X方向与一Y 方向与一Z方向三者彼此相互垂直，而穿过于该转动件11的中心且水平于该Y方向定义为一 第一方向线，再者，穿过于该转动件11的中心且垂直于该Y方向同时水平于该Z方向定义 为一第二方向线G所示，为本发明其一较佳实施例的待测物容器装置使用状态图一以 及使用状态图二，该待测物容置装置10可沿着该YZ平面转动，该YZ平面的法线与该X方向的 夹角大于或等于0度且小于90度，如本发明的一实施例中，该待测物容置装置10可容置有一 待测物A，而该待测物A可占有该容置空间101的体积为一定比例，使该待测物容置装置10沿 着该YZ平面转动时，容置于该容置空间101内的该待测物A可以上下翻动，而达到短时间内 混合均匀的效果。 [0073] 请再参阅图1G所示，该光检测装置12的一固态光源发射器120与一接收器121分别 设置于该待测物容置装置10两侧的邻近该透光片102的位置，该光检测装置12可依据该待 测物容置装置10转动的方向，调整该光检测装置12设置邻近该透光片102的位置，如本发明 的一实施例中，该第一方向线交叉后将该待测物容置装置10分成左上 区域、左下区域、右上区域与右下区域，当该待测物容置装置10沿着该YZ平面顺时针转动 时，该待测物A分布于左下区域或右下区域，因此，该光检测装置12可调整设置于左下区域 或右下区域，使得该光检测装置12在检测该待测物A时能得到的较佳的光谱图，以利后续进 行光谱图的分析。 [0074] 本发明的一实施例中，该待测物容置装置10更包含一待测物容置装置盖15与一开 口，该开口连通于该容置空间101，该待测物容置装置盖15可活动地密封该开口，于实际实 施时，使用者能透过该开口，将不同的该待测物A放置于该容置空间101内，而后该待测物容 置装置盖15可覆盖于该开口，或者该待测物容置装置盖15借由一第一枢轴151枢设于该待 测物容置装置10，令该待测物容置装置盖15可进行枢摆以调整角度，最后该待测物容置装 置盖15密封该开口，防止该待测物容置装置10沿着该YZ平面转动时而掉落出该待测物A。 [0075] 本发明的一实施例中，该待测物容置装置10的截面形状为圆形、椭圆形、多边形或 不规则形状等任何能有利于使该待测物A能混合均匀的截面形状，但本发明并不限于此。 10 10 CN 114910444 A 说明书 7/14页 [0076] 本发明的一实施例中，该成分分析仪1000更设置于一壳体16的内部，该壳体16可 提供防撞、防摔或防刮等以保护该成分分析仪1000，而该壳体16的尺寸大小、形状或颜色可 依照使用者的需求进行调整，例如:方便携带。该壳体16的一侧设置至少一散热孔17或该壳 体16的内部更设置一散热单元18，该散热单元18可举例但不限定为主动散热的风扇或为被 动散热的散热片、导热片、导热膏或导热胶，当该成分分析仪1000运作当下，所使用该散热 单元18为风扇时，可带动外部气体进入该壳体16的内部，将该成分分析仪1000运作时所产 生的热随着气流由该散热孔17对外传导出，以提供散热效果。该壳体16更包含一盖子160， 该盖子160借由一第二枢轴161枢设于该壳体16，令该盖子160可进行枢摆以调整角度。 [0077] 请一并参阅图2，相邻的二个该发光峰值波长所对应的二个发光二极管的该等波 长范围部分重叠以形成较该等发光二极管中的各者的该波长范围宽的一连续波长范围，该 连续波长范围是介于180nm至2500nm之间。在图2有三个发光峰值波长及所对应的波长 范围，分别为一第一光线的一第一发光峰值波长(734nm)所对应的该第一波长范围、一第二 光线的一第二发光峰值波长(810nm)所对应的该第二波长范围及一第三光线的一第三发光 峰值波长(882nm)所对应的该第三波长范围。该第一发光峰值波长与该第二发光峰值波长 是相邻的二个发光峰值波长，同样地该第二发光峰值波长与该第三发光峰值波长也是相邻 的二个发光峰值波长。该第一发光峰值波长所对应的该第一波长范围为介于660nm至780nm 之间，该第二光线的该第二发光峰值波长所对应的该第二波长范围为介于710nm至850nm， 该第一波长范围与该第二波长范围在710nm至780nm之间呈现部分重叠，因此该第一波长范 围与该第二波长范围共同形成660nm至850nm之间的该连续波长范围。同样地，该第二发光 峰值波长所对应的该第二波长范围为介于710nm至850nm，该第三光线的该第三发光峰值波 长所对应的该第三波长范围为介于780nm至940nm，该第二波长范围与该第三波长范围在 780nm至850nm之间呈现部分重叠，因此该第二波长范围与该第三波长范围共同形成710nm 至940nm之间的该连续波长范围。在本发明中，相邻的二个该发光峰值波长所对应的二个该 发光二极管的该等波长范围的重叠部分，以重叠愈少则愈佳。当然，相邻的二个该发光峰值 波长所对应的二个该发光二极管的该等波长范围也可以不重叠，这将于后文中说明。 [0078] 相邻的二个该发光峰值波长彼此相差为大于或等于0.5nm，较佳地为介于1nm至 80nm之间，更佳地为介于5nm至80nm之间。在图2中，相邻的该第一发光峰值波长(734nm)与 该第二发光峰值波长(810nm)彼此相差为76nm，而相邻的该第二发光峰值波长(810nm)与该 第三发光峰值波长(882nm)彼此相差为72nm。除了有特别说明的外，本发明及专利范围所述 之数值范围的限定总是包括端值，例如前述相邻的二个该发光峰值波长彼此相差为介于 5nm至80nm之间，是指大于或等于5nm而且小于或等于80nm。 [0079] 请一并参阅图3的第二实施例，第二实施例是第一实施例的衍生实施例，因此第二 实施例与第一实施例相同之处就不再赘述。第二实施例与第一实施例不同之处在于第二实 施例的该光源包含五个发光二极管，分别为放射具有一第一发光二极管、放射具有一第四 波长范围的一第四光线的一第四发光二极管、一第二发光二极管、放射具有一第五波长范 围的一第五光线的一第五发光二极管及一第三发光二极管，该第四光线在该第四波长范围 内具有一第四发光峰值波长(772nm)，该第五光线在该第五波长范围内具有一第五发光峰 值波长(854nm)。在图3中，发光峰值波长由小至大依序为该第一发光峰值波长(734nm)、该 第四发光峰值波长(772nm)、该第二发光峰值波长(810nm)、该第五发光峰值波长(854nm)及 11 11 CN 114910444 A 说明书 8/14页 该第三发光峰值波长(882nm)，相邻的该第一发光峰值波长(734nm)与该第四发光峰值波长 (772nm)彼此相差为38nm，相邻的该第四发光峰值波长(772nm)与该第二发光峰值波长 (810nm)彼此相差为38nm，相邻的该第二发光峰值波长(810nm)与该第五发光峰值波长 (854nm)彼此相差为44nm，相邻的该第五发光峰值波长(854nm)与该第三发光峰值波长 (882nm)彼此相差为28nm。 [0080] 请一并参阅图4的第三实施例，第三实施例是第一实施例及第二实施例的衍生实 施例，因此第三实施例与第一实施例及第二实施例相同之处就不再赘述。第三实施例与第 一实施例不同之处在于第三实施例的该光源包含12个发光二极管，在图4中，12个发光二极 管的发光峰值波长由小至大依序为734nm(该第一发光峰值波长)、747nm、760nm、772nm(该 第四发光峰值波长)、785nm、798nm、810nm(该第二发光峰值波长)、824nm、839nm、854nm(该 第五发光峰值波长)、867nm及882nm(该第三发光峰值波长)。该12个发光二极管的发光峰值 波长之中，相邻的二个该发光峰值波长彼此相差依序分别为13nm、13nm、12nm、13nm、13nm、 12nm、14nm、15nm、15nm、13nm及15nm。如果于第一实施例、第二实施例及第三实施例中的该 发光元件是改用激光二极管，相邻的二个该发光峰值波长彼此相差可以为大于或等于 0.5nm，例如为1nm。 [0081] 多个该发光峰值波长之中的至少一部分的该发光峰值波长所对应的波长半高宽 为大于0nm且小于或等于60nm。较佳地，各该发光峰值波长所对应的波长半高宽为大于0nm 且小于或等于60nm，例如前述第一实施例、第二实施例及第三实施例中发光峰值波长由小 至大依序为734nm(该第一发光峰值波长)、747nm、760nm、772nm(该第四发光峰值波长)、 785nm、798nm、810nm(该第二发光峰值波长)、824nm、839nm、854nm(该第五发光峰值波长)、 867nm及882nm(该第三发光峰值波长)，该第一光线的该第一发光峰值波长所对应的波长半 高宽、该第二光线的该第二发光峰值波长所对应的波长半高宽、该第三光线的该第三发光 峰值波长所对应的波长半高宽、该第四光线的该第四发光峰值波长所对应的波长半高宽及 该第五光线的该第五发光峰值波长所对应的波长半高宽为大于0nm且小于或等于60nm，较 佳为介于15nm至50nm之间，更佳为介于15nm至40nm之间。其余未说明的747nm、760nm、 785nm、798nm、824nm、839nm及867nm发光峰值波长所对应的波长半高宽(图4)也是为大于 0nm且小于或等于60nm，较佳为介于15nm至50nm之间，更佳为介于15nm至40nm之间。于本发 明的实验操作时，前述第一实施例、第二实施例及第三实施例中的发光峰值波长所对应的 波长半高宽为55nm；如果该发光元件是激光二极管，各该发光峰值波长所对应的波长半高 宽为大于0nm且小于或等于60nm，例如为1nm。 [0082] 前述相邻的二个该发光峰值波长所对应的二个该发光二极管的该等波长范围也 可以不重叠，例如如果前述第一实施例、第二实施例及第三实施例中的各发光峰值波长所 对应的波长半高宽为15nm，各发光峰值波长所对应的该波长范围的宽度(也就是该波长范 围的最大值与最小值的差)为40nm，相邻的二个该发光峰值波长彼此相差为80nm。又例如如 果该发光元件是激光二极管，各该发光峰值波长所对应的波长半高宽为1nm，该波长范围的 宽度为4nm，相邻的二个该发光峰值波长彼此相差为5nm，则相邻的二个该发光峰值波长所 对应的二个该发光元件激光二极管的该等波长范围不重叠。 [0083] 较佳地，于第一实施例、第二实施例及第三实施例操作一成像装置进行该待测物A 的检测以产生该待测物光谱图时，该成像装置为一手机或平板电脑，如前所述该固态光源 12 12 CN 114910444 A 说明书 9/14页 发射器120能够分别控制并使得多个该发光二极管分别呈现一明灭频率的非连续发光，多 个该明灭频率可以是彼此相同或彼此不同，或者多个该明灭频率可以是部分相同或部分不 同，前述该明灭频率是介于0.05次/秒至50000次/秒之间，该明灭频率中开启(点亮)该发光 二极管的时间区间为介于0.00001秒至10秒之间，该明灭频率中关闭(熄灭)该发光二极管 的时间区间为介于0.00001秒至10秒之间，该明灭频率的周期是指接续的一次开启(点亮) 该发光二极管的时间区间及关闭(熄灭)该发光二极管的时间区间的和，该明灭频率的周期 是该明灭频率的倒数；换言之，该明灭频率的周期可以被理解为将多个该发光二极管连续 点亮一点亮时间区间并立即无间断地连续熄灭一熄灭时间区间的和，该点亮时间区间为介 于0.00001秒至10秒之间，该熄灭时间区间为介于0.00001秒至10秒之间。较佳地，该明灭频 率是介于0.5次/秒至50000次/秒之间；更佳地，该明灭频率是介于5次/秒至50000次/秒之 间。多个该发光二极管呈现非连续发光的样态可以大幅降低该待测物A被该发光二极管所 放射的光的热能所影响，避免含有有机体的该待测物A产生质变，因此尤其适合对于热能敏 感的该待测物A，更尤其适合于该发光二极管所放射该波长范围的光为近红外光。 [0084] 特别说明的是，前述该发光元件与该接收器121的该影像撷取器及该光侦测器同 步运作及不运作也可以是指：该影像撷取器及该光侦测器以一运作频率进行非连续运作， 该发光元件的该明灭频率与该接收器121的该影像撷取器及该光侦测器的该运作频率为相 同。 [0085] 请一并参阅图5A，其为以该明灭频率的非连续发光方式操作该光检测装置12进行 该待测物A的检测，该待测物光谱讯号与一背景杂讯的结合及该背景杂讯所构成的一待测 物时域(time domain)讯号及一待测物时域讯号图。一数学分析模组设置于该光侦测器或 该计算器，该数学分析模组与该光侦测器电性或讯号连接，或该数学分析模组与该计算器 电性或讯号连接，而所述该数学分析模组可以是软件或硬件型态，该光侦测器所收集到的 讯号被传送到该数学分析模组。当操作该成像装置进行该待测物A的检测以产生该待测物 光谱图时，多个该发光二极管可以以相同的该明灭频率同时开或关，该明灭频率中开启(点 亮)该发光二极管的时间区间，该光侦测器所接收到的讯号为该待测物光谱讯号及一背景 杂讯(或称为背景噪音)的结合，而该明灭频率中关闭(熄灭)该发光二极管的时间区间，该 光侦测器所接收到的讯号为该背景杂讯。 [0086] 该光侦测器所收集到的前述该待测物光谱讯号及该背景杂讯被传送到该数学分 析模组，该数学分析模组对于前述该待测物时域讯号进行处理而将该背景杂讯舍弃，例如 该数学分析模组包含将该待测物时域讯号转换为一待测物频域(frequency domain)讯号 的一时域频域转换单元(图5A)，该时域频域转换单元可以是用以将该待测物时域讯号进行 傅立叶转换(Fourier  transform)为该待测物频域讯号的一傅立叶转换单元，转换后的该 待测物频域讯号及一待测物频域讯号图请参见图5B，该待测物频域讯号很容易被区分为该 待测物光谱讯号的频域讯号及该背景杂讯的频域讯号。在图5B中，位于0Hz的峰值的频域讯 号或小于该明灭频率的频域讯号，即为该背景杂讯的频域讯号；而在图5B中，除了位于0Hz 的峰值的频域讯号(该背景杂讯的频域讯号)，其余剩下的峰值的讯号即为该待测物光谱讯 号的频域讯号。较佳地，在该待测物频域讯号中，大于或等于该明灭频率的频域讯号即为该 待测物光谱讯号的频域讯号。该数学分析模组将该背景杂讯的频域讯号舍弃并留下该待测 物光谱讯号的频域讯号，以达到滤波效果。由于该数学分析模组将该背景杂讯的频域讯号 13 13 CN 114910444 A 说明书 10/14页 舍弃，因此留下的该待测物光谱讯号的频域讯号完全是属于该待测物A而不包含该背景讯 号，所以相对于传统光谱仪而言，本发明的该光检测装置12不仅提高该待测物A在光谱中的 讯号杂讯比(Signal‑to‑noise ratio)，本发明的该光检测装置12甚至因为将该背景杂讯 的频域讯号舍弃以进行滤波，所以可以达到无背景杂讯的光谱。请再度参阅图5A及图5B，该 固态光源发射器120的一微控制器可以与该数学分析模组电性或讯号连接，以同步将该明 灭频率、该明灭频率中开启(点亮)该发光二极管的时间区间及该明灭频率中关闭(熄灭)该 发光二极管的时间区间传送给该数学分析模组，以使得该微控制器依据该明灭频率、该明 灭频率中开启(点亮)该发光二极管的时间区间及该明灭频率中关闭(熄灭)该发光二极管 的时间区间以开或关与该微控制器分别电性连接的多个该发光二极管之时，该数学分析模 组能够将该明灭频率中开启(点亮)该发光二极管的时间区间对应为该待测物光谱讯号，以 及该数学分析模组能够将该明灭频率中关闭(熄灭)该发光二极管的时间区间对应为该背 景杂讯。 [0087] 特别说明的是，多个该发光二极管呈现该明灭频率的非连续发光的波形为方波、 正弦波或负弦波。 [0088] 另外，该数学分析模组也可以对于前述经过滤波效果所留下的该待测物光谱讯号 的频域讯号进行处理，而将前述所留下的该待测物光谱讯号的频域讯号转换为一滤波后待 测物时域讯号及一滤波后待测物时域讯号图，其中该滤波后待测物时域讯号之中只存在一 滤波后待测物光谱讯号，而不存在该背景杂讯。例如，该数学分析模组包含将前述所留下的 该待测物光谱讯号的频域讯号转换为一滤波后待测物时域讯号的一频域时域转换单元图 5B，该频域时域转换单元可以是用以将前述所留下的该待测物光谱讯号的频域讯号进行傅 立叶反转换(inverse Fourier Transform)为该滤波后待测物时域讯号的一傅立叶反转换 单元，转换后的该滤波后待测物时域讯号及该滤波后待测物时域讯号图请参见图5C。比较 图5A及图5C可以显然地看出，在图5C中该滤波后待测物时域讯号图之中的该滤波后待测物 时域讯号只存在该滤波后待测物光谱讯号而且呈现为方形波，而且该滤波后待测物时域讯 号图之中已经不存在任何该背景杂讯。换言之，在图5C中背景讯号为零，所以如果将该滤波 后待测物光谱讯号的值除以背景讯号的值，所得到的讯号杂讯比将呈现无限大；因此，本发 明提高了试样(待测物)检测结果光谱图中的讯号杂讯比，可以达到测试精准的效果。特别 说明的是，所述该数学分析模组、该时域频域转换单元及该频域时域转换单元可以分别是 软件或硬件型态，或上述软件或硬件型态的组合；该数学分析模组、该时域频域转换单元及 该频域时域转换单元彼此以电性或讯号连接。 [0089] 本发明的一实施例中，该固态光源发射器120的光源的波长范围介于400nm至 1700nm，由于待测物所含有的不同的基团和同一基团在不同物理化学环境中对光源的吸收 波长都有明显差异，使用者可针对不同的待测物所含的基团，调整特定范围的该光源的波 长范围，以有利于待测物的分析。 [0090] 请参阅图6所示的本发明的成分分析仪检测小麦后的光谱图，借由待测物容置装 置10于YZ平面的旋转方式，使预分析检测的谷物能在均匀地混合的情况下进行检测，而达 到多次重复的量测，另一方面，请一并参阅图7所示的现有的成分分析仪检测小麦后的光谱 图，现有的成分分析仪借由待测物容置装置10以水平旋转的方式将预分析检测的谷物混 合，再进行检测，其中该水平指水平于该X方向与该Y方向所定义的一XY平面上。而如图6与 14 14 CN 114910444 A 说明书 11/14页 图7所示，横坐标轴为波长，单位为nm，纵坐标轴为相对强度(intensity)，本试验在约650nm 至1000nm之间的该连续波长范围内以成分分析仪多次地对谷物进行光谱量测，如图6所示， 每一次光谱量测的光相对强度分布的结果趋近于一致，而相对地如7图所示，每一次光谱量 测的光相对强度分布的结果均不近相同，尤其在800nm至1000nm之间的该连续波长范围更 为明显。 [0091] 请一并参阅图8所示，为本发明与现有的成分分析仪检测谷物后的成分比较分析 表格图。该图8分别展示本发明与现有的成分分析仪检测谷物的表格，而表格中记录每一次 的测试次数与其成分分析仪检测谷物后的水份与蛋白质等成分数据以及该数据的标准差 (Standard Deviation)与讯号杂讯比(Signal‑to‑noise ratio)，由表格中显示本发明所 量测的蛋白质的标准差数值为0.0308且水份的标准差数值为0.02096，而现有所量测的蛋 白质的标准差数值为0.2002且水份的标准差数值为0.1503，故本发明与现有的成分分析仪 相比下，其标准差数值明显较小，代表每一次检测的数值与平均数值差异不大，再者，表格 中显示本发明所量测的蛋白质的讯号杂讯比为298且水份的讯号杂讯比为436，而现有所量 测的蛋白质的讯号杂讯比为45且水份的讯号杂讯比为61，故本发明与现有的成分分析仪相 比下，其所侦测到的讯号杂讯比也明显较高，代表本发明确实可提高测试精准的效果。 [0092] 再者，请一并参阅图9所示，为本发明与现有的成分分析仪检测相同待测物后的光 谱比较分析图。横坐标轴为波长，单位为nm，纵坐标轴为多次测量后所得数值中，以最大数 值减掉最小数值后除以多次测量后所得数值的平均值，单位为百分比，本试验在约650nm至 1000nm之间的该连续波长范围内以成分分析仪多次地对谷物进行光谱量测，以横坐标轴的 百分比为5.00％为标准，若高于5.00％时，其最大数值与最小数值差异越大，代表该成分分 析仪1000的每次量测结果间具有较低的准确度，反之亦然，若其最大数值与最小数值差异 越小，代表该成分分析仪1000的每次量测结果间具有较高的准确度。如图9所示能明显观察 出本发明的成分分析仪所量测的结果皆在5.00％以下，而现有的成分分析仪所量测的结果 皆高于5.00％。 [0093] 综上图6至图9所示，透过本发明的待测物容置装置10于YZ平面的旋转方式，确实 能使预分析检测的谷物能在均匀地混合的情况下多次地进行检测，且检测后的数据具有较 高的测量精度。 [0094] 请一并参阅图10与图11所示，为本发明其一较佳实施例的成分分析系统方块图与 电子设备方块图。本发明基于主要目的另外提供一种成分分析系统，适用于一成分分析仪 1000，该成分分析系统2包含：一待测物容置装置10，该待测物容置装置10具有一容置空间 101、一透光片102与一转动件11，该透光片102设置于该待测物容置装置10的相对两侧，该 转动件11贯穿设置于该待测物容置装置10或分别设置于于该待测物容置装置10两侧，该转 动件11的延伸方向定义为一X方向，该X方向不同于一Y方向与一Z方向，该Y方向与该Z方向 定义成一YZ平面，该待测物容置装置10可沿着该YZ平面转动，该YZ平面的法线与该X方向的 夹角大于或等于0度且小于90度；一光检测装置12，该光检测装置12具有一固态光源发射器 120与一接收器121，该固态光源发射器120与该接收器121分别设置于该待测物容置装置10 两侧的邻近该透光片102的位置；一驱动装置13，该驱动装置13连接该转动件11；至少一支 撑件14，该支撑件14枢接于该转动件11，一第一处理器20，该处理器电性连接该光检测装置 12、该驱动装置13、一谷物分析模组25、一第一无线 A 说明书 12/14页 [0095] 该谷物分析模组25可对于该光检测装置12检测谷物后的光谱图进行分析，以分析 出该谷物的水份、蛋白质与灰质等数值，可用以进一步地鉴定该谷物的等级与品质，以小麦 为例，当小麦加工为面粉时，其蛋白质含量会影响吸水率或面筋强度，灰质含量可用于评估 小麦磨粉后的预期产值，而小麦本身水份含量也会影响加工为面粉时所添加的水量。特别 说明的是，本发明的谷物分析模组25不限于仅分析上述谷物的水份、蛋白质与灰质等参数， 也可依照需求对于谷物其他成分的比例或含量进行分析。 [0096] 本发明的一实施例中，该第一无线的一第二无 线，该第二无线可以为个人 电脑、个人行动通讯装置、笔记型电脑或平板电脑等。 [0097] 于实际实施时，该成分分析仪1000能透过该第一无线所分析出该谷物的水份、蛋白质与灰质等数值传输于一电子设备3，让使用者能随时透 过该电子设备3存取该谷物的水份、蛋白质与灰质等数值，该第一无线与第二无 线可选用Wi‑Fi、WiMAX、IEEE 802.11系列、4G网路、5G网路、HSPA网路、LTE网路 或蓝牙。 [0098] 本发明的一实施例中，该成分分析系统2更包含一感测器19，该感测器19电性连接 该第一处理器20，该感测器19可为包含相对湿度感测器或温度感测器或其两者，该相对湿 度感测器用于感测空气中的一相对湿度，并产生一相对湿度资料，该温度感测器用于感测 植物生长时的一环境温度，并产生一环境温度资料。借由相对湿度或环境温度的高低，以预 测谷物的生长情形，且该成分分析仪1000能透过该第一无线所感 测得资讯传输于一电子设备3，该资讯可以为该温度感测器所感测的该环境温度资料与该 相对湿度感测器所感测的该相对湿度资料，让使用者能随时透过该电子设备3存取目前谷 物生长时的该环境温度资料与该相对湿度资料。 [0099] 本发明的一实施例中，该成分分析系统2更包含一第一设定单元23，该第一设定单 元23可举例但不限于触控式萤幕或按键，该第一设定单元23电性连接该第一处理器20。该 第一设定单元23可输入一作物资讯、一作物种类、一纪录日期、一分析区域R或一作物采收 计划等任何与作物有关的相关参数，让使用者能直接在成分分析仪1000上进行操作。 [0100] 本发明的一实施例中，该成分分析系统2更包含一第一显示装置24，该第一显示装 置24电性连接该第一处理器20，该第一显示装置24可以显示该光检测装置12所产生的光谱 图、该驱动装置13的运转速度或频率、该谷物分析模组25对光谱图分析后的数值与该全球 定位系统22的该定位资讯P等所产生的讯息或该作物资讯、该作物种类、该纪录日期、该分 析区域R或该作物采收计划等任何有益于使用者判断分析的资讯，该第一显示装置24可以 为液晶萤幕。 [0101] 本发明的一实施例中，该电子设备3更包含一第二设定单元32，该第二设定单元32 电性连接该第二处理器31，该第二设定单元32可举例但不限于触控式萤幕或按键。该第二 设定单元32可输入一作物资讯、一作物种类、一纪录日期、一分析区域R或一作物采收计划 等任何与作物有关的相关参数。于实际实施时，如图15所示，该作物种类为所种植的农作物 品种，该纪录日期为检测作物时的日期，而该作物资讯可以为环境的相对湿度(RH％)或温 度℃；或作物中的灰质(dry matter)含量、水份含量、蛋白质含量与油脂/甜度比例等；而规 格为预先设定的作物品质标准数值，该作物品质标准数值可依据上述的灰质(dry matter) 16 16 CN 114910444 A 说明书 13/14页 含量、水份含量、蛋白质含量与油脂/甜度比例等或其他有利于评价作物品质标准的参数综 合判断或采单一参数判断；测试数量为成分分析仪测试作物的次数；成分分析仪每一次对 作物测试后会产生一作物品质数值，而平均值为测试后的所有的作物品质数值加总后除以 总测试数量；合规数量为每一次作物品质数值符合该规格时会采计一次；良率为合规数量 除以测试数量。而作物采收计划可根据作物资讯与作物种类，以预测该作物的采收日期。 [0102] 本发明的一实施例中，该电子设备3更包含一第二显示装置33，该第二显示装置33 电性连接该第二处理器31，该第二显示装置33可以显示该光检测装置12所产生的光谱图、 该驱动装置13的运转速度或频率、该谷物分析模组25对光谱图分析后的数值与该全球定位 系统22的该定位资讯P等所产生的讯息或一作物资讯、一作物种类、一纪录日期、一分析区 域R或一作物采收计划等任何有益于使用者判断分析的资讯。该第二显示装置33可以为液 晶萤幕。 [0103] 请参阅图12至图14所示，为本发明其一较佳实施例的作物产地示意图、分析区域 示意图(一)与分析区域示意图(二)。使用者能透过该全球定位系统22，该全球定位系统 (Global Positioning System，GPS)22可提供准确的三度立体空间的定位功能，该全球定 位系统22可对于一作物产地C定位出一定位资讯P，该定位资讯P可以是所在处的经度、纬度 和高度的坐标，于实际实施时，使用者使用成分分析仪检测谷物时，除了产生该谷物的水 份、蛋白质与灰质等数值外，该全球定位系统22同时也对该次检测的位置定位出相对应的 该定位资讯P，而后该第一处理器20将该成分分析仪1000所检测后的该谷物的水份、蛋白质 与灰质等数值及该定位资讯P，透过该第一无线传输于该第二无线， 使用者可参考该定位资讯P与其相对应的该等数值、作物资讯或作物种类作为日后制定作 物采收计划的基础。使用者也能利用第一设定单元23或第二设定单元32设定预分析的分析 区域，该分析区域R可包含多个或单一个该定位资讯P，如图15所示，而得到该分析区域R的 作物资讯、作物种类、纪录日期或作物采收计划等任何与作物有关的相关参数，该作物种类 为所种植的农作物品种，该纪录日期为检测该作物时的日期，而该作物资讯可以为环境的 相对湿度(RH％)或温度(℃)；或作物中的灰质(dry matter)含量、水份含量、蛋白质含量与 油脂/甜度比例等；而规格为预先设定的作物品质标准数值，该作物品质标准数值可依据上 述的灰质(dry matter)含量、水份含量、蛋白质含量与油脂/甜度比例等或其他有利于评价 作物品质标准的参数综合判断或采单一参数判断；测试数量为成分分析仪测试作物的次 数；成分分析仪每一次对作物测试后会产生一作物品质数值，而平均值为测试后的所有的 作物品质数值加总后除以总测试数量；合规数量为每一次作物品质数值符合该规格时会采 计一次；良率为合规数量除以测试数量；而作物采收计划可根据作物资讯与作物种类，以预 测该作物的采收日期。 [0104] 综上所述，本发明与现有技术与产品相较之下，本发明具有以下优点之一： [0105] 本发明目的之一为透过本发明的成分分析仪借由待测物容置装置于YZ平面的旋 转方式，以使预分析检测的谷物能在均匀地混合的情况下进行检测，并达到多次重复的量 测，来获取谷物成分数据。 [0106] 本发明目的之一为透过待测物容置装置的结构除了量测谷物外，对于任何的颗 粒、粉状、中药材、液体或流体的待测物均能量测，并透过量测后所得各类数值，将各待测物 进行分类或筛选。 17 17 CN 114910444 A 说明书 14/14页 [0107] 本发明目的之一为透过本发明的成分分析仪结构间的配置关系与旋转方式，减少 过去因人工进行重复量测作业时，需取出样品再混合而导致预分析检测的谷物污染的可能 性，以维持前次与后次量测时的条件因素。 18 18 CN 114910444 A 说明书附图 1/20页 图1A 19 19 CN 114910444 A 说明书附图 2/20页 图1B 20 20 CN 114910444 A 说明书附图 3/20页 图1C 21 21 CN 114910444 A 说明书附图 4/20页 图1D 22 22 CN 114910444 A 说明书附图 5/20页 图1E 23 23 CN 114910444 A 说明书附图 6/20页 图1F 24 24 CN 114910444 A 说明书附图 7/20页 图1G 25 25 CN 114910444 A 说明书附图 8/20页 图2 26 26 CN 114910444 A 说明书附图 9/20页 图3 27 27 CN 114910444 A 说明书附图 10/20页 图4 28 28 CN 114910444 A 说明书附图 11/20页 图5A 29 29 CN 114910444 A 说明书附图 12/20页 图5B 30 30 CN 114910444 A 说明书附图 13/20页 图5C 31 31 CN 114910444 A 说明书附图 14/20页 图6 图7 32 32 CN 114910444 A 说明书附图 15/20页 图8 33 33 CN 114910444 A 说明书附图 16/20页 图9 34 34 CN 114910444 A 说明书附图 17/20页 图10 图11 35 35 CN 114910444 A 说明书附图 18/20页 图12 图13 36 36 CN 114910444 A 说明书附图 19/20页 图14 37 37 CN 114910444 A 说明书附图 20/20页 图15 38 38

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